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豎直平板上電容法測量水膜厚度方法評價(jià)
宋建; 韋勝杰; 于意奇; 胡珀; 楊燕華 解放軍海軍工程大學(xué)核能科學(xué)與工程系; 武漢430033; 上海交通大學(xué)核科學(xué)與工程學(xué)院; 上海200240
- 電容探針
- 動(dòng)態(tài)水膜厚度
- 水膜表面波形態(tài)
- 誤差分析
- 探針有效截面
摘要：本文指出了電容探針測量動(dòng)態(tài)水膜厚度的若干影響因素，并針對其中主要因素水膜表面波形態(tài)對測量的影響進(jìn)行了定量分析。同時(shí)，定性分析了影響測量的諸如電容探針有效截面、平板表面水膜覆蓋情況和水膜波動(dòng)速度及采樣頻率等其它因素對于測量的影響。誤差分析表明，電容探針的測量誤差與探針有效截面面積、探針截面與波動(dòng)表面夾角成正比，與測量值的絕對值成反比。
- 電容探針
- 動(dòng)態(tài)水膜厚度
- 水膜表面波形態(tài)
- 誤差分析
- 探針有效截面
摘要：本文指出了電容探針測量動(dòng)態(tài)水膜厚度的若干影響因素，并針對其中主要因素水膜表面波形態(tài)對測量的影響進(jìn)行了定量分析。同時(shí)，定性分析了影響測量的諸如電容探針有效截面、平板表面水膜覆蓋情況和水膜波動(dòng)速度及采樣頻率等其它因素對于測量的影響。誤差分析表明，電容探針的測量誤差與探針有效截面面積、探針截面與波動(dòng)表面夾角成正比，與測量值的絕對值成反比。
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