摘要：預期焦慮是由于對未發生結果的負性投射造成的焦慮情緒。本文比較了被試在不同預期焦慮水平下觀看愉快、中性及恐懼面孔時的行為和腦電數據。發現在高預期焦慮水平下,恐懼面孔誘發的N170波幅顯著大于低預期焦慮水平,而愉快和中性面孔在兩種水平下誘發的N170波幅差異不顯著,且預期焦慮水平對恐懼面孔誘發的N170波幅的調節強度與個體的特質焦慮得分顯著相關。這些結果表明,預期焦慮水平會影響面孔表情加工,且不同情緒面孔受到的影響不同。我們推測,預期焦慮水平可能通過影響杏仁核等腦區的激活來調節顳上回對恐懼面孔的加工。