《電子產品可靠性與環(huán)境試驗》雜志的錄用到發(fā)表周期涉及多個環(huán)節(jié)，具體時間因投稿時間、稿件質量、欄目安排等因素而有所不同，若需進一步了解詳情，可聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

以下是對錄用到發(fā)表過程的詳細分析：

1、審稿周期

初審：一般在投稿后預計1個月內內完成，如果超過時間未收到初審結果，可以主動聯(lián)系雜志社。

復審和終審：初審通過后，稿件進入復審和終審階段，復審時間相對較長，可能需要數周至數月不等，具體時間取決于復審專家的評審進度和稿件質量。

2、錄用后到發(fā)表

校稿和修改：錄用后，作者可能需要根據雜志社的意見進行多次校稿和修改，這一過程的時間因稿件情況而異。

見刊周期：《電子產品可靠性與環(huán)境試驗》雜志雙月刊，具體時間取決于稿件的排期和雜志的出版計劃。

作者應提前了解相關流程和時間要求，合理安排投稿計劃，并耐心等待審稿結果。

《電子產品可靠性與環(huán)境試驗》雜志創(chuàng)刊于1980年，是由中華人民共和國工業(yè)和信息化部主管、工業(yè)和信息化部電子第五研究所(中國電子產品可靠性與環(huán)境試驗研究所)工業(yè)和信息化部電子第五研究所 (中國電子產品可靠性與環(huán)境試驗研究所) (中國賽寶實驗室)主辦的學術理論期刊。它以研究和解決電子理論為核心，致力于探索電子規(guī)律，為深化電子改革、繁榮電子科學服務。

作為一本具有較高學術價值的雙月刊，《電子產品可靠性與環(huán)境試驗》雜志在電子領域具有廣泛的影響力，是全國電子學術理論界較有影響的雜志之一。

它面向全國公開發(fā)行，是電子領域中重要的部級期刊，該雜志的國際標準刊號：1672-5468，國內統(tǒng)一刊號：44-1412/TN，每期都承載著豐富的電子理論，為廣大電子工作者提供寶貴的學術資源。

《電子產品可靠性與環(huán)境試驗》雜志現(xiàn)獲得重要學術榮譽：Caj-cd規(guī)范獲獎期刊、中國優(yōu)秀期刊遴選數據庫、中國期刊全文數據庫（CJFD）、中國學術期刊（光盤版）全文收錄期刊等，其學術地位和影響力得到了廣泛認可。

該雜志被知網收錄(中)、維普收錄(中)、萬方收錄(中)、國家圖書館館藏、上海圖書館館藏等重要數據庫收錄，為廣大讀者提供了便捷的檢索和獲取途徑。

《電子產品可靠性與環(huán)境試驗》雜志社位于廣州市增城區(qū)朱村街朱村大道西78號，主編為肖虹（執(zhí)行）。

綜上所述，《電子產品可靠性與環(huán)境試驗》雜志在電子理論與實踐的交匯點上發(fā)揮著重要作用，是電子研究者和實踐者不可或缺的學術資源。

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