關于《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志是否接受AI輔助的論文，目前并沒有明確的官方聲明指出該雜志絕對接受或拒絕AI輔助撰寫的論文，可能會根據具體情況進行逐案評估，作者在投稿前可以與雜志社進行溝通或咨詢在線客服。

SCI期刊對AI輔助論文的接受程度因期刊而異，以下是對SCI期刊接受AI輔助論文情況的詳細分析：

一、AI輔助論文的使用限制

禁止生成核心內容、禁止署名、保證數據完整性

二、AI輔助的用途

語言潤色，文獻綜述，圖表推薦

三、建議與策略

1.了解目標期刊政策：在投稿前，作者應仔細研究目標SCI期刊的政策和指南，了解其對AI輔助論文的態度和要求。

2.明確聲明AI使用情況：如果論文中使用了AI輔助技術，作者應在投稿時明確聲明，并提供詳細的AI使用說明和范圍。

3.保持學術誠信與原創性：作者應確保論文的核心內容和創新點是由自己獨立完成的，避免過度依賴AI生成的內容。

4.深度改寫與個性化處理：對AI生成的內容進行深度改寫和個性化處理，以體現個人的學術思考和見解。

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志創刊于1952年，國際標準簡稱為IEEE T INSTRUM MEAS，ISSN號：0018-9456，E-ISSN號：1557-9662。

該雜志由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版，出版周期為Bimonthly，出版語言為English。作為一本專注于工程技術-工程：電子與電氣領域的學術期刊，它被國際權威數據庫SCIE收錄，在學術界具有較高的影響力。

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志中文名稱為：儀器儀表和測量的IEEE Transactions。

征集的論文應涉及創新解決方案，以開發和使用電氣和電子儀器和設備來測量、監控和/或記錄物理現象，從而推動測量科學、方法、功能和應用的發展。這些論文的范圍可能包括：(1) 測量的理論、方法和實踐；(2) 用于生成、獲取、調節和處理信號的儀器和測量系統及組件的設計、開發和評估；(3) 分析、表示、顯示和保存從一組測量中獲得的信息；(4) 對儀器和測量領域技術標準的建立和維護提供科學和技術支持。

分區情況：

在中科院最新升級版分區表中，該雜志在大類學科工程技術中位于2區，小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣中位于2區。

JCR分區信息按JIF指標學科分區，該雜志在ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域為Q1。

Cite Score數據顯示，CiteScore：9，SJR：1.536，SNIP：1.741

學科類別

大類：Physics and Astronomy，小類：Instrumentation，分區：Q1，排名：13 / 141，百分位：91%； 大類：Physics and Astronomy，小類：Electrical and Electronic Engineering，分區：Q1，排名：114 / 797，百分位：85%；

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