《Microelectronics Reliability》國際標準刊號?ISSN：0026-2714，電子期刊的國際標準刊號：1872-941X。
創刊時間：1964年
出版周期：Monthly
出版語言：English
國際簡稱：MICROELECTRON RELIAB
研究方向：工程技術 - 工程：電子與電氣
期刊定位與內容：
微電子可靠性(Microelectronics Reliability)是一本由Elsevier Ltd出版的學術刊物，主要報道工程技術-工程：電子與電氣相關領域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創刊于1964年，出版周期Monthly。
《微電子可靠性》發表專家撰寫的簡短易懂的評論，重點介紹工程：電子與電氣的最新關鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結，方便尚未深入研究的人閱讀。
《微電子可靠性》致力于傳播微電子設備、電路和系統可靠性的最新研究成果和相關信息，涵蓋材料、工藝和制造、設計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領域（如設計、制造、集成、測試和現場操作）相結合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領域和特定應用領域案例研究的實踐論文。
大多數被接受的論文將以研究論文的形式發表，描述重大進展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發展主題的論文可能會被接受作為評論論文發表。更初步的緊急通訊和關于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發表。所有投稿均需經過該領域頂尖專家的同行評審。
出版周期與發文量：
該雜志出版周期Monthly，每月發布一期。近年來，該期刊的年發文量約為310篇。
學術影響力：
2021-2022年最新版WOS分區等級：Q3，2023年發布的影響因子為1.6，CiteScore指數3.3，SJR指數0.394。本刊非開放獲取期刊。
Cite Score（2024年最新版）
- CiteScore：3.3
- SJR：0.394
- SNIP：0.801
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Safety, Risk, Reliability and Quality | Q2 | 83 / 207 |
60%
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| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 395 / 797 |
50%
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| 大類：Engineering 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q3 | 118 / 224 |
47%
|
| 大類：Engineering 小類：Condensed Matter Physics | Q3 | 230 / 434 |
47%
|
| 大類：Engineering 小類：Surfaces, Coatings and Films | Q3 | 74 / 132 |
44%
|
| 大類：Engineering 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q3 | 161 / 284 |
43%
|
CiteScore：該指標由Elsevier于2016年提出，指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScorer的計算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發表的文章在2022年獲得的被引次數，除以該期刊2019年、2020年和2021發表并收錄于Scopus中的文章數量總和。
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