《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》不是預(yù)警刊物。
名詞解釋：
預(yù)警刊物通常是指在學術(shù)界被認為存在一定問題或潛在風險的期刊，這些問題可能涉及學術(shù)質(zhì)量、出版規(guī)范、引文操控等方面。
如果作者是發(fā)表論文用來晉升職稱的話，預(yù)警期刊最好不要選擇，避免出現(xiàn)發(fā)表的文章不受認可的現(xiàn)象，不單單是職稱晉升，畢業(yè)、保研、申博等用途的文章發(fā)表也要注意避免選擇預(yù)警期刊。
那么作者要以哪一份預(yù)警期刊目錄為參考依據(jù)？如果單位和學校有預(yù)警期刊目錄，就以單位和學校公布的為主要參考依據(jù)，如果沒有的話，可以參考中科院的預(yù)警期刊目錄。可以直接在瀏覽器搜索框輸入“國際預(yù)警期刊網(wǎng)站”，搜索高校出版的預(yù)警期刊列表。
中科院的預(yù)警目錄中，風險等級有高中低三個級別之分，需要注意如果一個刊物去年是低風險預(yù)警期刊，今年被目錄剔除了，說明刊物之前不合規(guī)的方面已經(jīng)糾正，已經(jīng)不再是預(yù)警期刊了，這樣的刊物就可以放心發(fā)表。以上是對預(yù)警期刊的簡單提示，更多疑問可以咨詢在線客服。
《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》作為一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的國際知名學術(shù)期刊，專注于工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域，一直保持著較高的學術(shù)標準和出版規(guī)范。
此外該雜志的影響因子為2.5，SJR指數(shù)0.436。表明其在工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域具有較高的學術(shù)影響力。
Cite Score（2024年最新版）
- CiteScore：4.8
- SJR：0.436
- SNIP：1.148
| 學科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Safety, Risk, Reliability and Quality | Q2 | 65 / 207 |
68%
|
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 274 / 797 |
65%
|
| 大類：Engineering 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q2 | 103 / 284 |
63%
|
CiteScore：該指標由Elsevier于2016年提出，指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScorer的計算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發(fā)表的文章在2022年獲得的被引次數(shù)，除以該期刊2019年、2020年和2021發(fā)表并收錄于Scopus中的文章數(shù)量總和。
在中科院分區(qū)表中，大類學科中工程技術(shù)為：3區(qū)，小類學科中工程技術(shù)-工程：電子與電氣：3區(qū)，
中科院分區(qū)信息
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability2023年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability2022年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability2021年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability2021年12月基礎(chǔ)版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
4區(qū)
4區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability2021年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability2020年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
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3區(qū)
4區(qū)
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否 | 否 |
中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果。在中科院期刊分區(qū)表中，主要參考3年平均IF作為學術(shù)影響力，最終每個分區(qū)的期刊累積學術(shù)影響力是相同的，各區(qū)的期刊數(shù)量由高到底呈金字塔式分布。
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