要提升在《Iet Computers And Digital Techniques》雜志上的發(fā)表速度，可以從以下幾個(gè)方面著手：

1、了解期刊特點(diǎn)與要求

熟悉期刊定位、研讀投稿指南。

2、優(yōu)化稿件質(zhì)量

精心準(zhǔn)備論文：在投稿前，確保論文結(jié)構(gòu)清晰、邏輯嚴(yán)謹(jǐn)、語言流暢，并符合期刊的格式要求。

摘要與關(guān)鍵詞：撰寫簡潔明了的摘要和準(zhǔn)確無誤的關(guān)鍵詞，以便編輯和審稿人快速了解論文的核心內(nèi)容和創(chuàng)新點(diǎn)。

數(shù)據(jù)完整準(zhǔn)確：確保研究數(shù)據(jù)完整、以便審稿人能夠快速驗(yàn)證論文的可靠性和科學(xué)性。

3、積極溝通與合作

與編輯保持溝通、及時(shí)回應(yīng)審稿意見、推薦審稿人。

4、選擇投稿時(shí)機(jī)

避開投稿高峰期、關(guān)注期刊動(dòng)態(tài)。

5、利用專業(yè)服務(wù)

語言潤色服務(wù)：如果English不是作者的母語，可以考慮使用專業(yè)的語言潤色服務(wù)來修飾論文初稿和投稿信中的措辭，確保英語運(yùn)用準(zhǔn)確清晰。

《Iet Computers And Digital Techniques》雜志創(chuàng)刊于2007年，ISSN號(hào)：1751-8601，E-ISSN號(hào)：1751-861X，國際標(biāo)準(zhǔn)簡稱為IET COMPUT DIGIT TEC，中文名稱為：《計(jì)算機(jī)與數(shù)字技術(shù)》。

該雜志由Wiley出版，出版語言為English，出版地區(qū)為ENGLAND，出版周期為Bi-monthly。作為一本專注于COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計(jì)算機(jī)：硬件領(lǐng)域的SCI學(xué)術(shù)期刊，被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄，其在學(xué)術(shù)界擁有較高的影響力和學(xué)術(shù)地位。

IET 計(jì)算機(jī)與數(shù)字技術(shù)發(fā)表技術(shù)論文，介紹數(shù)字片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)和電子及嵌入式系統(tǒng)測試各個(gè)方面的最新研究和開發(fā)工作，包括設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具（方法、算法和架構(gòu)）的開發(fā)。特別歡迎基于與 CMOS 技術(shù)縮小相關(guān)的問題的論文。它面向計(jì)算機(jī)和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測試領(lǐng)域的研究人員、工程師和教育工作者。

感興趣的關(guān)鍵主題領(lǐng)域是：

設(shè)計(jì)方法和工具：CAD/EDA 工具、硬件描述語言、高級和架構(gòu)綜合、硬件/軟件協(xié)同設(shè)計(jì)、基于平臺(tái)的設(shè)計(jì)、3D 堆疊和電路設(shè)計(jì)、片上系統(tǒng)架構(gòu)和 IP 核、嵌入式系統(tǒng)、邏輯綜合、低功耗設(shè)計(jì)和功率優(yōu)化。

仿真、測試和驗(yàn)證：電氣和時(shí)序仿真、基于仿真的驗(yàn)證、硬件/軟件協(xié)同仿真和驗(yàn)證、混合域技術(shù)建模和仿真、硅后驗(yàn)證、功率分析和估算、互連建模和信號(hào)完整性分析、硬件信任和安全性、可測試性設(shè)計(jì)、嵌入式核心測試、片上系統(tǒng)測試、在線測試、自動(dòng)測試生成和延遲測試、低功耗測試、可靠性、故障建模和容錯(cuò)。

處理器和系統(tǒng)架構(gòu)：多核系統(tǒng)、通用和專用處理器、DSP 應(yīng)用的計(jì)算算法、算術(shù)和邏輯單元、高速緩存、內(nèi)存管理、協(xié)處理器和加速器、片上系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)、嵌入式內(nèi)核、平臺(tái)、多處理器、分布式系統(tǒng)、通信協(xié)議和低功耗問題。

可配置計(jì)算：嵌入式內(nèi)核、FPGA、快速原型設(shè)計(jì)、自適應(yīng)計(jì)算、可演化和靜態(tài)和動(dòng)態(tài)可重構(gòu)及可重新編程系統(tǒng)、可重構(gòu)硬件。

針對可變性、功耗和老化的設(shè)計(jì)：針對可變性、功耗和老化感知設(shè)計(jì)、內(nèi)存、FPGA、IP 組件、3D 堆疊、能量收集的設(shè)計(jì)方法。

案例研究：新興應(yīng)用、工業(yè)設(shè)計(jì)中的應(yīng)用以及設(shè)計(jì)框架。

該雜志在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科“計(jì)算機(jī)科學(xué)”為4區(qū)，小類學(xué)科“COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE”為4區(qū)；在JCR分區(qū)等級為Q3。其影響因子為1.1。

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