《Ieee Transactions On Reliability》雜志屬于中科院分區(qū)：2區(qū)，影響因子是：5。

出版周期：Quarterly

OA是否開放：未開放

Gold OA文章占比：16.74%

是否預(yù)警：否

出版語言：English

中科院分區(qū)信息：

從大類學(xué)科分區(qū)來看，《Ieee Transactions On Reliability》雜志在中科院最新升級(jí)版分區(qū)表中位于計(jì)算機(jī)科學(xué)2區(qū)。計(jì)算機(jī)科學(xué)是一個(gè)廣泛的學(xué)科領(lǐng)域，涵蓋了從計(jì)算機(jī)：硬件的各個(gè)層面。該雜志能夠躋身2區(qū)，足以證明其在計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的學(xué)術(shù)水平和影響力。

進(jìn)一步細(xì)分到小類學(xué)科，該雜志則屬于COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計(jì)算機(jī)：硬件領(lǐng)域，位于2區(qū)。

影響因子：5。從影響因子的角度來看，《Ieee Transactions On Reliability》雜志也表現(xiàn)出色，該雜志影響因子在不同年份有所波動(dòng)，但總體呈上升趨勢(shì)，這種趨勢(shì)不僅反映了該雜志在學(xué)術(shù)界的影響力逐漸增強(qiáng)，也體現(xiàn)了其在推動(dòng)工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域發(fā)展方面的積極作用。

從JCR分區(qū)信息的角度， 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)分為：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，分區(qū)：Q1，排名：8 / 59，百分位：87.3%；COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING，分區(qū)：Q1，排名：13 / 131，百分位：90.5%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，分區(qū)：Q1，排名：65 / 352，百分位：81.7%；
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)分為：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，分區(qū)：Q1，排名：7 / 59，百分位：88.98%；COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING，分區(qū)：Q1，排名：14 / 131，百分位：89.69%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，分區(qū)：Q1，排名：42 / 354，百分位：88.28%；