《Ieee Transactions On Reliability》雜志拒稿后是可以轉(zhuǎn)投其他期刊的， 但需要注意以下幾點(diǎn)：

一、確認(rèn)拒稿狀態(tài)：在轉(zhuǎn)投之前，作者必須確保文章確實已被《Ieee Transactions On Reliability》雜志拒稿。如果尚未收到明確的拒稿通知，建議耐心等待或主動向雜志社詢問審稿進(jìn)度和結(jié)果。

二、修改論文：根據(jù)審稿意見修改論文，確保解決提出的問題，并改進(jìn)論文的結(jié)構(gòu)、方法、論證等方面。

三、轉(zhuǎn)刊操作建議

優(yōu)先選擇同出版社期刊?：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.旗下其他計算機(jī)科學(xué)雜志可能更易接收。?

選擇匹配度更高的期刊：參考JCR分區(qū)、影響因子、收稿方向，避免因“主題不符”再次被拒。

附修改說明?：轉(zhuǎn)投時建議提交針對前次拒稿意見的改進(jìn)說明，提升通過率。

四、注意事項

避免一稿多投，保持耐心和信心。

《Ieee Transactions On Reliability》雜志概括

國際標(biāo)準(zhǔn)簡稱：IEEE T RELIAB

創(chuàng)刊時間：1963年

出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

出版周期：Quarterly

出版語言：English

出版地區(qū)：UNITED STATES

ISSN：0018-9529，E-ISSN：1558-1721

收錄數(shù)據(jù)庫：SCIE

學(xué)科領(lǐng)域：工程技術(shù)-工程：電子與電氣（COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE）

期刊定位：專注于發(fā)表計算機(jī)：硬件領(lǐng)域的文章，旨在為研究人員提供該領(lǐng)域的最新研究成果和前沿動態(tài)。

《Ieee Transactions On Reliability》雜志審稿周期預(yù)計為： 約4.5個月 ，年發(fā)文量：約132篇，H-index：86。

《Ieee Transactions On Reliability》雜志數(shù)據(jù)

（1）影響因子

該雜志的影響因子為5，在計算機(jī)：硬件領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力。

（2）分區(qū)情況

中科院分區(qū)：

大類學(xué)科：計算機(jī)科學(xué)2區(qū)。

小類學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機(jī)：硬件2區(qū)。

JCR分區(qū)：

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)分區(qū)：Q1區(qū); 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)分區(qū)：Q1區(qū);

（3）CiteScore

CiteScore數(shù)值為12.2，（ 小類學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，分區(qū)為Q1，百分位：96%。小類學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，分區(qū)為Q1，百分位：92%。)

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