《Ieee Design & Test》雜志拒稿后是可以轉(zhuǎn)投其他期刊的， 但需要注意以下幾點：
一、確認拒稿狀態(tài)：在轉(zhuǎn)投之前，作者必須確保文章確實已被《Ieee Design & Test》雜志拒稿。如果尚未收到明確的拒稿通知，建議耐心等待或主動向雜志社詢問審稿進度和結(jié)果。
二、修改論文：根據(jù)審稿意見修改論文，確保解決提出的問題，并改進論文的結(jié)構(gòu)、方法、論證等方面。
三、轉(zhuǎn)刊操作建議
優(yōu)先選擇同出版社期刊?：IEEE Computer Society旗下其他工程技術(shù)雜志可能更易接收。?
選擇匹配度更高的期刊：參考JCR分區(qū)、影響因子、收稿方向，避免因“主題不符”再次被拒。
附修改說明?：轉(zhuǎn)投時建議提交針對前次拒稿意見的改進說明，提升通過率。
四、注意事項
避免一稿多投，保持耐心和信心。
《Ieee Design & Test》雜志概括
國際標準簡稱：IEEE DES TEST
創(chuàng)刊時間：2013年
出版商：IEEE Computer Society
出版周期：6 issues/year
出版語言：English
出版地區(qū)：UNITED STATES
ISSN：2168-2356，E-ISSN：2168-2364
收錄數(shù)據(jù)庫：SCIE
學科領(lǐng)域：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC（COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE）
期刊定位：專注于發(fā)表計算機：硬件領(lǐng)域的文章，旨在為研究人員提供該領(lǐng)域的最新研究成果和前沿動態(tài)。
《Ieee Design & Test》雜志審稿周期預(yù)計為： ，年發(fā)文量：約59篇，H-index：72。
《Ieee Design & Test》雜志數(shù)據(jù)
（1）影響因子
該雜志的影響因子為1.9，在計算機：硬件領(lǐng)域具有較高的學術(shù)影響力。
（2）分區(qū)情況
中科院分區(qū)：
大類學科：工程技術(shù)4區(qū)。
小類學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機：硬件4區(qū)。
JCR分區(qū)：
按JIF指標學科分區(qū)分區(qū)：Q3區(qū); 按JCI指標學科分區(qū)分區(qū)：Q3區(qū);
（3）CiteScore
CiteScore數(shù)值為3.8，（ 小類學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，分區(qū)為Q2，百分位：55%。小類學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，分區(qū)為Q3，百分位：47%。)
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